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邁可諾技術有限公司
主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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邁可諾技術有限公司
主營產(chǎn)品： 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機 |
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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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SM120立式反射率測試儀 簡單介紹：全自動八度角積分式立式反射率測試儀SM120，應用在電池片制絨工序監(jiān)控環(huán)節(jié)，為客戶電池片質(zhì)量品質(zhì)把控，降低損耗提供了有效的檢測方案。 產(chǎn)品型號：SM120 所在地：武漢市 更新時間：2025-07-02 |
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SM280自動顯微薄膜厚度測繪儀 簡單介紹：SM280自動顯微薄膜厚度測繪儀采用顯微系統(tǒng)，可以進一步縮小光斑大小，從而實現(xiàn)非常優(yōu)秀的空間分辨率。同時，SM280采用一體化設計，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的3軸移動平臺。 產(chǎn)品型號：SM280 所在地：武漢市 更新時間：2025-07-02 |
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SM230自動光學薄膜厚度掃描測繪儀 簡單介紹：SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動光學薄膜厚度掃描測繪儀，由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的旋轉(zhuǎn)平臺， 產(chǎn)品型號：SM230 所在地：武漢市 更新時間：2025-07-02 |
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SM200系列光學薄膜厚度測量儀 簡單介紹：SM200系列光學薄膜厚度測量儀是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動薄膜厚度測繪儀，由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成，核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀結(jié)合算法技術。 產(chǎn)品型號：SM200系列 所在地：武漢市 更新時間：2025-07-02 |
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FR-Scanner掃描型薄膜在線測厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。 產(chǎn)品型號：FR-Scanner 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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FR-pRo基礎型膜厚儀（紫外/近紅外-高分辨率） 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。 產(chǎn)品型號：FR-pRo 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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FR-portable便攜式光學膜厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。 產(chǎn)品型號：FR-portable 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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FR-uProbe微米級光學薄膜測厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精 產(chǎn)品型號：FR-uProbe 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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FR-Basic UV/NIR-HR膜厚儀 簡單介紹：品牌：希臘ThetaMetrisis 名詞：膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關的其他物理量。 產(chǎn)品型號：FR-Basic UV/NIR-HR 所在地：北京市 更新時間：2025-07-01 |
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